W2, Podstawy Metrologii
[ Pobierz całość w formacie PDF ]
Wykład 2. METODY POMIAROWE NIEPEWNOŚĆ I BŁĄD WYNIKU POMIARU U og lniony sche m at procesu po m iaro w ego (pełny schemat str. 2) Schemat uproszczony Źrdło Etap Etap Etap Etap Obser- wielkości I II III IV wator ETAP I : - przejęcie sygnału ze źrdła, - wyselekcjonow - przetworzenie * wielkości mierzonej na porwnywalną, - dopasowanie wartości wielkości porwnywalnej do zakresu urządze- nia porwnującego. ETAP II : podstawowa struktura procesu pomiarowego ! - odszukanie wzorca w pamięci, - porwnanie przetworzonej wielkości mierzonej z wzorcem, - przekazanie sygnału o wyniku porwnania. ETAP III : - przetworzenie *) surowego wyniku na wielkość do dalszego opracowania, - dopasowanie wielkości, - opracowanie wyniku pomiaru według modelu matematycznego. ETAP IV : - przetworzenie *) wyniku dla ujawnienia wartości, - ujawnienie wyniku: • analogowe (wychylenie wskaźnika, wykres, È), cyfrowe (wyświetlacz cyfrowy, wydruk, zapis w pamięci, È). proces zamiany sygnału na inny w celu dogodnego wykorzystania informacji zawartej w sygnale. Wartość sygnału otrzymanego w wyniku przetworzenia jest jednoznaczną funkcją wartości sygnału przetwarzanego ( więcej W9 ). J. Ciepłucha. Podstawy Metrologii Î materiały do wykładu; W2 1 *) przetwarzanie OGìLNA STRUKTURA PROCESU POMIAROWEGO POMIAR doświadczalne porwnanie określonej wielkości mierzalnej z wzorcem tej wielkości przyjętym umownie za jednostkę miary, ktrego wynikiem jest przyporządkowanie wartości liczbowej, mwiącej ile razy wielkość mierzona jest większa lub mniejsza od wzorca. Układ pomiarowy zbir środkw technicznych, tak ze sobą sprzężonych, że może służyć do ... Wydruk O B S Źrdło Wyselekcjo X 1 Dopasowa X Porwnanie Y Y Dopasowa Opracowanie Wyświetle E wielkości nowanie X nie z wzorcem Y 1 nie wynikw nie R W Przetworzenie Przetworzenie A Zapis w T pamięci O Model Model R matema WZORZEC matema tyczny tyczny Wychylenie wskaźnika I Etap II Etap III Etap IV Etap Przyrząd pomiarowy wielkość mierzoną X porwnuje się z wielkością wzorcową W przyjmującą rżne wartości w 1 , w 2 , ... w n ; wartość w i rwnoważną swym działaniem wielkości mierzonej identyfikuje się z jej wielkością x. J. Ciepłucha. Podstawy Metrologii Î materiały do wykładu; W2 2 Algorytm pomiaru Wyselekcjo Dopasowa WZORZEC Dopasowa nowanie nie nie O Mod. mat. B Rejestracja S Źrdło Wyselekcjo Dopasowa Porwnanie Dopasowa Opracowanie poszcze E wielkości nowanie nie z wzorcem nie wynikw glnych R wartości W Mod. mat . A Model T Wyselekcjo Dopasowa Dopasowa matema O nowanie nie nie tyczny R Model matema tyczny I Etap II Etap III Etap IV Etap Schemat procesu pomiarowego kilku rżnych wartości J. Ciepłucha. Podstawy Metrologii Î materiały do wykładu; W2 3 Metoda pomiaru (logiczny ciąg wykonywanych podczas pomiaru operacji opisanych w sposb oglny ) - przetłumaczenie objaww energetycznych towarzyszących danemu zja- wisku na informacje nadające się do przetworzenia jako wyniki pomiaru procesu badawczego Pojęcie to obejmuje: określenie cech mierzalnych zjawiska (wielkości), wybr wielkości porwnywalnych i sposobu porwnania, stworzenie modelu procesu pomiarowego (np. schemat blokowy), dobr przyrządw, ustalenie sposobu opracowania wynikw i sprawdzenia ich wiarygodności. W zawężonym znaczeniu: Met. pom. - sposb postępowania przy porwnaniu parametrw badanego zjawiska z wzorcem celem wyznaczenia wartości danej wielkości fizycznej. Metody pomiarowe kryteria klasyfikacji rodzaj wielkości mierzonej i porwnywanej sposb porwnania wielkości inne BEZPOŚREDNIA POŚREDNIA WYCHYŁOWA ZEROWA asocjacyjna klasyczna podstawienia derywacyjna wariacyjna wariacyjna rżnicowa kompensacyjna J. Ciepłucha. Podstawy Metrologii Î materiały do wykładu; W2 4 BEZPOŚREDNIA METODA POMIAROWA wielkość mierzona i wzorzec są wielkościami fizycznymi tego samego rodzaju Przykład 1 : pomiar masy na wadze dwuszalkowej rwnoramiennej 0 l 1 l 2 krotność wzorca wielkość mierzona m w = m wi rwnowaga m p F w = m w g m p = m w F p = F w F p = m p g M p = M w m p g 2 l 2 = m w g 1 l 1 m p = m w Przykład 2 : pomiar masy na wadze uchylnej M p = M o F p l p = F o l o m p g l p = m o g l o m p = m o r o /r p tg r p r o wzorzec krotność wzorca m p = k tg ; k = m o r o /r p l p l o F p = m p g F o = m o g m p = f( ) J. Ciepłucha. Podstawy Metrologii Î materiały do wykładu; W2 5 [ Pobierz całość w formacie PDF ] |